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信息存儲(chǔ)應(yīng)用技術(shù)
  • 存儲(chǔ)測(cè)試電路、芯片及車(chē)輛的制作方法
    本申請(qǐng)屬于芯片,尤其涉及一種存儲(chǔ)測(cè)試電路、芯片及車(chē)輛。、目前很多芯片帶有存儲(chǔ)功能,例如mcu(microcontroller?unit,微控制器單元)芯片、dsp(digital?signalprocess,數(shù)字信號(hào)處理)芯片、soc(system?on?chip片上系統(tǒng))芯片等。在對(duì)芯片...
  • 一種自冗余備份的OTP存儲(chǔ)單元、陣列和操作方法與流程
    本發(fā)明涉及存儲(chǔ)器件,特別涉及一種自冗余備份的otp存儲(chǔ)單元、陣列和操作方法。、一次性可編程存儲(chǔ)器(one?time?programmable,otp)主要是指anti-fuse(反熔絲)。anti-fuse通過(guò)擊穿多晶硅層和n擴(kuò)散層之間的ono(oxide-nitride-oxide)絕緣...
  • 分柵式閃存及編程方法與流程
    本申請(qǐng)涉及存儲(chǔ),具體涉及一種分柵式閃存及編程方法。、閃存(flash)具有高密度、低價(jià)格、電可編程可擦除等優(yōu)點(diǎn),被廣泛應(yīng)用在非易失性存儲(chǔ)器件中。其中,浮柵型閃存具有層疊的柵極結(jié)構(gòu),其包括浮柵(floating?gate,fg)和控制柵,控制柵通過(guò)耦合以控制浮柵中電子的存儲(chǔ)和釋放。目前廣泛應(yīng)...
  • 使用亞閾值電壓用于存儲(chǔ)器中的映射的制作方法
    本公開(kāi)大體上涉及半導(dǎo)體存儲(chǔ)器及方法,且更特定來(lái)說(shuō),涉及使用亞閾值電壓用于存儲(chǔ)器中的映射。、存儲(chǔ)器裝置通常被提供為計(jì)算機(jī)或其它電子裝置中的內(nèi)部半導(dǎo)體集成電路及/或外部可卸除裝置。存在包含易失性及非易失性存儲(chǔ)器的許多不同類型的存儲(chǔ)器。易失性存儲(chǔ)器需要電力來(lái)維持其數(shù)據(jù)且可包含隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(ra...
  • 存儲(chǔ)系統(tǒng)的操作方法以及存儲(chǔ)系統(tǒng)與流程
    本申請(qǐng)總體上涉及電子器件領(lǐng)域,尤其涉及一種存儲(chǔ)系統(tǒng)的操作方法以及存儲(chǔ)系統(tǒng)。、存儲(chǔ)器是信息技術(shù)的基礎(chǔ),作為下一代的非易失半導(dǎo)體存儲(chǔ)器的候選者,相變存儲(chǔ)器(phase?change?random?access?memory,pcm)由于高速讀取、高可擦寫(xiě)次數(shù)、非易失性、元件尺寸小、功耗低、抗強(qiáng)...
  • 一種存儲(chǔ)裝置及電子設(shè)備的制作方法
    本申請(qǐng)的所公開(kāi)實(shí)施例涉及存儲(chǔ),且更具體而言,涉及一種存儲(chǔ)裝置及電子設(shè)備。、由于存儲(chǔ)裝置存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的電容會(huì)隨時(shí)間自然放電,如果不及時(shí)補(bǔ)充電荷,存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)就會(huì)丟失。為了確保在不同操作條件(如工藝、溫度、電壓等)下刷新(refresh)操作能夠持續(xù)保持?jǐn)?shù)據(jù)的準(zhǔn)確性,可以通過(guò)調(diào)整refresh操作的...
  • 用于整合神經(jīng)啟發(fā)適應(yīng)性以進(jìn)行持續(xù)學(xué)習(xí)的方法和裝置與流程
    概括地說(shuō),本公開(kāi)內(nèi)容的各方面涉及人工智能,更具體地,涉及用于在人工智能中整合神經(jīng)啟發(fā)適應(yīng)性以進(jìn)行持續(xù)學(xué)習(xí)的方法和裝置。、持續(xù)學(xué)習(xí)(也稱為終身學(xué)習(xí))是實(shí)現(xiàn)人工通用智能(agi)的基石之一。由于現(xiàn)實(shí)世界是動(dòng)態(tài)且不可預(yù)測(cè)的,智能體需要在其整個(gè)生命周期中學(xué)習(xí)和記憶,就像生物大腦一樣,以便有效地適應(yīng)...
  • 一種芯片測(cè)試裝置和方法與流程
    本申請(qǐng)涉及芯片測(cè)試,特別是涉及一種芯片測(cè)試裝置和方法。、在當(dāng)前的電子產(chǎn)品制造和測(cè)試領(lǐng)域,存儲(chǔ)芯片的質(zhì)量和可靠性對(duì)產(chǎn)品的整體性能至關(guān)重要。然而,現(xiàn)有的存儲(chǔ)芯片測(cè)試流程存在一些顯著的局限性和問(wèn)題,這些問(wèn)題在實(shí)際應(yīng)用中給用戶帶來(lái)了諸多不便和挑戰(zhàn)。、芯片測(cè)試裝置的設(shè)備龐大復(fù)雜,操作復(fù)雜,因此大多數(shù)...
  • 存儲(chǔ)模塊的自檢方法、裝置、芯片、介質(zhì)及產(chǎn)品與流程
    本申請(qǐng)涉及計(jì)算機(jī)的,更具體地,涉及一種存儲(chǔ)模塊的自檢方法、裝置、芯片、介質(zhì)及產(chǎn)品。、相關(guān)技術(shù)中,存儲(chǔ)模塊例如隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(random?access?memory,ram)的指令糾錯(cuò)(error?checking?and?correcting,ecc)自檢機(jī)制通過(guò)注錯(cuò)單元注入ecc錯(cuò)誤,...
  • 一種閃存數(shù)據(jù)解碼方法、裝置、電子設(shè)備及可讀存儲(chǔ)介質(zhì)與流程
    本申請(qǐng)涉及數(shù)據(jù)解碼,尤其涉及一種閃存數(shù)據(jù)解碼方法、裝置、電子設(shè)備及可讀存儲(chǔ)介質(zhì)。、目前,在通過(guò)軟解碼方法對(duì)nand閃存進(jìn)行數(shù)據(jù)讀取時(shí),采用左偏移參考電壓、無(wú)偏移參考電壓、右偏移參考電壓連續(xù)三次讀取操作,獲取讀取到的原始數(shù)據(jù),以及對(duì)應(yīng)的對(duì)數(shù)似然比(llr)表,進(jìn)而在解碼過(guò)程中,利用llr表中...
  • 檢測(cè)硬盤(pán)的裝置的制作方法
    本申請(qǐng)涉及存儲(chǔ)系統(tǒng),并且涉及一種檢測(cè)硬盤(pán)的裝置。、在現(xiàn)有技術(shù)中,人工讀取硬盤(pán)表面信息或進(jìn)行肉眼瑕疵檢查,存在漏檢、誤判風(fēng)險(xiǎn),且不具備可追溯性,而硬盤(pán)的檢測(cè)工具往往專用于單一接口規(guī)格。隨著qc(入庫(kù)檢驗(yàn))增多,傳統(tǒng)逐個(gè)檢測(cè)的方式極大限制質(zhì)檢效率。技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路、本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N檢測(cè)硬盤(pán)的裝置,...
  • 一種基于計(jì)算機(jī)大數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)設(shè)備
    本發(fā)明涉及數(shù)據(jù)存儲(chǔ),具體為一種基于計(jì)算機(jī)大數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)設(shè)備。、現(xiàn)有的計(jì)算機(jī)在分析圖像的過(guò)程中,不僅需要獲取超高分辨率數(shù)字影像,還需要對(duì)進(jìn)行大量的數(shù)據(jù)進(jìn)行收錄,其內(nèi)部電子元件在持續(xù)工作的過(guò)程中會(huì)放出大量的熱,若熱量難以發(fā)散,則極有可能會(huì)由于熱量堆積,使得元件溫度升高,進(jìn)而影響電子元件的工作...
  • 用于非易失性存儲(chǔ)器設(shè)備的原地讀取刷新的裝置和方法與流程
    、.、本公開(kāi)整體涉及非易失性存儲(chǔ)器,并且更特別地涉及經(jīng)優(yōu)化以在非常高的讀取性能下并且以非常低功率消耗操作的改善的存儲(chǔ)器設(shè)備。、.相關(guān)技術(shù)、半導(dǎo)體存儲(chǔ)器廣泛用于各種電子設(shè)備,諸如蜂窩電話、數(shù)碼相機(jī)、個(gè)人數(shù)字助理、醫(yī)療電子器件、移動(dòng)計(jì)算設(shè)備、服務(wù)器、固態(tài)驅(qū)動(dòng)器、非移動(dòng)計(jì)算設(shè)備和其他設(shè)備...
  • 存儲(chǔ)器結(jié)構(gòu)、刷新方法及存儲(chǔ)器與流程
    本公開(kāi)涉及半導(dǎo)體電路設(shè)計(jì)領(lǐng)域,特別涉及一種存儲(chǔ)器結(jié)構(gòu)、刷新方法及存儲(chǔ)器。、存儲(chǔ)器是用來(lái)存儲(chǔ)程序和各種數(shù)據(jù)信息的記憶部件。其中,存儲(chǔ)器可被分為易失性存儲(chǔ)器裝置和非易失性存儲(chǔ)器裝置,對(duì)于易失性存儲(chǔ)器裝置中的動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(dynamic?random?access?memory,dram)...
  • 一種帶存儲(chǔ)模塊的封閉式VPX插板結(jié)構(gòu)的制作方法
    本技術(shù)屬于車(chē)載艦載設(shè)備,具體涉及一種帶存儲(chǔ)模塊的封閉式vpx插板結(jié)構(gòu)。、目前,各類車(chē)載艦載設(shè)備中,越來(lái)越多地用到了可插拔螺裝固定式存儲(chǔ)模塊的結(jié)構(gòu)形式。存儲(chǔ)模塊屬于需要經(jīng)常拆卸拷貝數(shù)據(jù)的模塊,這就要求該插板結(jié)構(gòu)不僅要滿足安裝的可靠性,還需要具備便于經(jīng)常拆裝的特點(diǎn)。隨著客戶需求日益嚴(yán)格,要求插...
  • 可自監(jiān)控使用壽命的測(cè)試裝置的制作方法
    本技術(shù)涉及一種測(cè)試裝置,尤其涉及一種可自監(jiān)控使用壽命的測(cè)試裝置。、一般而言,測(cè)試人員會(huì)通過(guò)測(cè)試裝置對(duì)受測(cè)組件(例如,閃存芯片等電子組件)進(jìn)行可靠性測(cè)試,以檢測(cè)受測(cè)組件是否存在質(zhì)量問(wèn)題。然而,測(cè)試裝置在長(zhǎng)期使用下所產(chǎn)生的物理性磨損,會(huì)影響檢測(cè)結(jié)果的正確性。技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路、本實(shí)用新型提供一種可自...
  • 一種便于拆卸的SSD硬盤(pán)的制作方法
    本技術(shù)涉及ssd硬盤(pán),尤其涉及一種便于拆卸的ssd硬盤(pán)。、ssd硬盤(pán)是一種主要以閃存作為永久性存儲(chǔ)器的計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)設(shè)備,固態(tài)硬盤(pán)由控制單元和存儲(chǔ)單元組成,被廣泛應(yīng)用于工控、視頻監(jiān)控、網(wǎng)絡(luò)監(jiān)控、網(wǎng)絡(luò)終端、導(dǎo)航設(shè)備等諸多領(lǐng)域,相對(duì)于機(jī)械硬盤(pán),固態(tài)硬盤(pán)有著較高的讀寫(xiě)速度,但成本也相對(duì)較高。、ssd...
  • 一種用于云計(jì)算的信息存儲(chǔ)設(shè)備的制作方法
    本申請(qǐng)涉及數(shù)據(jù)處理的,尤其是涉及一種用于云計(jì)算的信息存儲(chǔ)設(shè)備。、云計(jì)算是一種通過(guò)互聯(lián)網(wǎng)提供按需計(jì)算資源的服務(wù)模式。在云計(jì)算環(huán)境中,信息存儲(chǔ)設(shè)備是支撐數(shù)據(jù)持久化、高可用性和彈性擴(kuò)展的核心組件。常見(jiàn)的用于云計(jì)算的信息存儲(chǔ)設(shè)備包括企業(yè)級(jí)硬盤(pán)、固態(tài)硬盤(pán)、存儲(chǔ)服務(wù)器和磁帶庫(kù)等等。、隨著數(shù)據(jù)量的爆炸式...
  • 一種存儲(chǔ)器加工生產(chǎn)用測(cè)試夾具的制作方法
    本技術(shù)涉及存儲(chǔ)器測(cè)試設(shè)備,特別涉及一種存儲(chǔ)器加工生產(chǎn)用測(cè)試夾具。、存儲(chǔ)器芯片是半導(dǎo)體的一大重要分支,通常用于存儲(chǔ)信息,存儲(chǔ)器芯片在批量生產(chǎn)制造的過(guò)程中,會(huì)出現(xiàn)存儲(chǔ)器芯片性能不合格的產(chǎn)品,由于將存儲(chǔ)器芯片性能不合格的產(chǎn)品封裝后,再對(duì)存儲(chǔ)器進(jìn)行檢測(cè),不容易找到存儲(chǔ)器的故障問(wèn)題,因此,在存儲(chǔ)器芯...
  • 精細(xì)致動(dòng)器反作用力消除柔性懸架的制作方法
    本發(fā)明的實(shí)施方案可整體涉及硬盤(pán)驅(qū)動(dòng)器,并且具體地涉及用于精細(xì)致動(dòng)器反作用力消除的柔性懸架組件。、硬盤(pán)驅(qū)動(dòng)器(hdd)是非易失性存儲(chǔ)設(shè)備,該非易失性存儲(chǔ)設(shè)備容納在保護(hù)殼體中并將數(shù)字編碼的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在具有磁性表面的一個(gè)或多個(gè)圓形磁盤(pán)上。當(dāng)hdd在操作中時(shí),由主軸系統(tǒng)快速旋轉(zhuǎn)每個(gè)磁記錄磁盤(pán)。使用由...
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